在現(xiàn)行各種封頭中，規(guī)范橢圓封頭因其制造加工容易，應(yīng)力分布情況理想及其節(jié)約材料等優(yōu)點而被廣泛使用。封頭拼湊焊縫屬A類，從橢圓封頭的制造來看，一般是先拼湊后壓制成形。在壓制環(huán)節(jié)中，內(nèi)部缺陷可能會延伸，同時又可能產(chǎn)生新缺陷。因而，探傷實際的挑選顯得至關(guān)重要。有明確規(guī)定說：成形后的封頭需在形狀查驗達標后再進行無損檢測。因為壓制成形后的焊縫形狀繁雜，假如透明方式選擇不當，容易造成漏檢。通常采用定向曝光機可獲得品質(zhì)較高的檢測結(jié)果，但此法工作效率低、勞動強度大。如果用軸向曝光機或γ源一次透照法，有可能使部分焊縫在透照時的K值超標。這事由于封頭表層各處曲率不同，以致射線對焊縫各處透照薄厚比K值也不一樣。
封頭在壓制成形時，焊縫可能會在應(yīng)力作用下裂開而形成裂紋。但射線探傷對橫著裂紋的驗出有一定局限性，因而提升裂紋診斷率是編制封頭射線探傷工藝的關(guān)鍵目標。